@article{Christ1988,
  author    = {Christ, Andreas},
  title     = {Reflexionsverhalten von Verbindungsstrukturen f{\"u}r Mikrowellenbauteile},
  journal   = {Frequenz},
  volume    = {42},
  number    = {1},
  issn      = {0016-1136},
  doi       = {10.1515/FREQ.1988.42.1.7},
  url       = {https://www.degruyter.com/document/doi/10.1515/FREQ.1988.42.1.7/html},
  institution = {Fakult{\"a}t Elektrotechnik und Informationstechnik (E+I) (bis 03/2019)},
  pages     = {7 -- 13},
  year      = {1988},
  abstract  = {Der Entwurf von Strukturen zum reflexionsarmen Einbetten von Halbleiterbauteilen in Mikrostreifenleitungsschaltungen gestaltet sich mit steigender Frequenz kritischer. Deshalb wird ein Verfahren vorgestellt, das es erm{\"o}glicht, das Streuverhalten solcher Strukturen unter Anwendung der dreidimensionalen Finite-Differenzen-Methode auf die Maxwellschen Gleichungen numerisch zu berechnen. Hierauf aufbauend wurde das Programmpaket F3D entwickelt. Das Streuverhalten einer Verbindung zweier GaAs-Chips durch eine dielektrische Wand wird in Abh{\"a}ngigkeit von Geometrieparametern diskutiert. Außerdem werden Ersatzschaltbilder unterschiedlicher Komplexit{\"a}t f{\"u}r CAD-Anwendungen vorgestellt. Diese erm{\"o}glichen zudem eine rechenzeiteffektive Optimierung dieser Struktur, die somit Filteraufgaben {\"u}bernehmen kann. Dies wird am Beispiel eines Tiefpasses gezeigt.},
  language  = {de}
}