TY  - JOUR
U1  - Zeitschriftenartikel, wissenschaftlich - begutachtet (reviewed)
A1  - Christ, Andreas
T1  - Reflexionsverhalten von Verbindungsstrukturen für Mikrowellenbauteile
JF  - Frequenz
N2  - Der Entwurf von Strukturen zum reflexionsarmen Einbetten von Halbleiterbauteilen in Mikrostreifenleitungsschaltungen gestaltet sich mit steigender Frequenz kritischer. Deshalb wird ein Verfahren vorgestellt, das es ermöglicht, das Streuverhalten solcher Strukturen unter Anwendung der dreidimensionalen Finite-Differenzen-Methode auf die Maxwellschen Gleichungen numerisch zu berechnen. Hierauf aufbauend wurde das Programmpaket F3D entwickelt. Das Streuverhalten einer Verbindung zweier GaAs-Chips durch eine dielektrische Wand wird in Abhängigkeit von Geometrieparametern diskutiert. Außerdem werden Ersatzschaltbilder unterschiedlicher Komplexität für CAD-Anwendungen vorgestellt. Diese ermöglichen zudem eine rechenzeiteffektive Optimierung dieser Struktur, die somit Filteraufgaben übernehmen kann. Dies wird am Beispiel eines Tiefpasses gezeigt.
KW  - Reflexionsverhalten
KW  - Verbindungsstrukturen
KW  - Mikrowellenbauteile
Y1  - 1988
UR  - https://www.degruyter.com/document/doi/10.1515/FREQ.1988.42.1.7/html
SN  - 0016-1136
SS  - 0016-1136
U6  - https://doi.org/10.1515/FREQ.1988.42.1.7
DO  - https://doi.org/10.1515/FREQ.1988.42.1.7
VL  - 42
IS  - 1
SP  - 7
EP  - 13
PB  - Walter de Gruyter
ER  -