@article{Grosshans,
  author    = {Walter A. Gro{\"s}hans},
  title     = {Raster-Elektronenmikroskop erm{\"o}glicht Untersuchungen mit h{\"o}chster Aufl{\"o}sung und Pr{\"a}zision},
  volume    = {2011},
  url       = {https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:bsz:ofb1-opus-1207},
  pages     = {60 -- 60},
  abstract  = {Seit Beginn dieses Jahres hat das Zentrum f{\"u}r Physik der Hochschule Offenburg ein neues Rasterelektronen-Mikroskop (REM) der Firma Jeol. Das JSM-6610LV ist ein modernes, hochaufl{\"o}sendes digitales Raster Elektronenmikroskop mit Niedervakuum-Betriebsmodus. Nach Standard befindet sich die Probe in einem Elektronenmikroskop im Hochvakuum bei etwa 10-5 Pa. Der optionale Niedervakuumbetrieb reicht von 10 Pa bis 270 Pa. Er ist besonders geeignet f{\"u}r die Untersuchung von ausgasenden, feuchten, klebrigen oder elektrisch isolierenden Proben wie st{\"a}rkehaltigen Bakterien und Zellen.},
  language  = {de}
}