TY  - JOUR
U1  - Zeitschriftenartikel, nicht wissenschaftlich
A1  - Großhans, Walter A.
T1  - Raster-Elektronenmikroskop ermöglicht Untersuchungen mit höchster Auflösung und Präzision
N2  - Seit Beginn dieses Jahres hat das Zentrum für Physik der Hochschule Offenburg ein neues Rasterelektronen-Mikroskop (REM) der Firma Jeol. Das JSM-6610LV ist ein modernes, hochauflösendes digitales Raster Elektronenmikroskop mit Niedervakuum-Betriebsmodus. Nach Standard befindet sich die Probe in einem Elektronenmikroskop im Hochvakuum bei etwa 10-5 Pa. Der optionale Niedervakuumbetrieb reicht von 10 Pa bis 270 Pa. Er ist besonders geeignet für die Untersuchung von ausgasenden, feuchten, klebrigen oder elektrisch isolierenden Proben wie stärkehaltigen Bakterien und Zellen.
KW  - Rasterelektronenmikroskop
Y1  - 2011
U6  - https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:bsz:ofb1-opus-1207
UN  - https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:bsz:ofb1-opus-1207
VL  - 2011
SP  - 60
EP  - 60
ER  -