TY - CHAP U1 - Konferenzveröffentlichung A1 - Fischer, Daniel A1 - Seitel, D. T1 - Pairwise Testing - Unentdeckten Fehlern auf der Spur T2 - Embedded-Software-Engineering-Kongress : Tagungsband Y1 - 2010 SN - 978-3-8343-2404-7 SB - 978-3-8343-2404-7 SP - 443 EP - 449 PB - Vogel Business Media CY - Würzburg ER -