Unified Test Environment for LPWAN and Cellular IoT
| Dokumentart: | Konferenzveröffentlichung |
|---|---|
| Art der Konferenzveröffentlichung: | Konferenzartikel |
| Zitierlink: | https://opus.hs-offenburg.de/3857 | Bibliografische Angaben |
| Titel (Englisch): | Unified Test Environment for LPWAN and Cellular IoT |
| Konferenzangaben: | Embedded World Conference 2019, Nuremberg, Germany, February 26-28, 2019 |
| Verfasserangaben: | Jubin Sebastian ElayanithottathilStaff MemberGND, Manuel SchappacherStaff MemberORCiDGND, Axel SikoraStaff MemberORCiDGND |
| Erscheinungsjahr: | 2019 |
| Verlagsort: | Haar |
| Verlag: | WEKA FACHMEDIEN GmbH |
| Seitenanzahl: | 4 |
| Erste Seite: | 187 |
| Letzte Seite: | 191 |
| Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Proceedings of Embedded World Conference 2019, Nuremberg, Germany, 26.-28.02.2019 |
| Sprache: | Englisch | Inhaltliche Informationen |
| Fakultäten / Einrichtungen: | Fakultät Elektrotechnik, Medizintechnik und Informatik (EMI) (ab 04/2019) |
| Sammlungen der Hochschule Offenburg: | Bibliografie | Formale Angaben |
| Open-Access-Status: | Closed Access |
| Lizenz (Deutsch): |  Urheberrechtlich geschützt |