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Tagungsband zum Workshop der Multiprojekt-Chip-Gruppe Baden-Württemberg, Reutlingen, 9. Juli 2010

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    Metadaten
    Document Type:Conference Proceeding
    Title (German):Tagungsband zum Workshop der Multiprojekt-Chip-Gruppe Baden-Württemberg, Reutlingen, 9. Juli 2010
    Contributor(s):Benjamin Dusch
    Year of Publication:2010
    Creating Corporation:Hochschule Ulm ; MPC
    Page Number:122
    Series (Serial Number):Tagungsband zum Workshop der Multiprojekt Chip-Gruppe Baden-Württemberg (44)
    Volume:44
    ISSN:1862-7102
    URN:https://urn:nbn:de:bsz:ofb1-opus4-60237
    Language:German
    Institutes:Fakultät Elektrotechnik und Informationstechnik (E+I) (bis 03/2019)
    Journals:Tagungsband zum Workshop der Multiprojekt Chip-Gruppe Baden-Württemberg
    Tag:Mikroelektronik
    Open Access: Open Access 
     Bronze 
    Licence (German):License LogoUrheberrechtlich geschützt
    Comment:
    Konferenz: 44. Workshop der Multiprojekt Chip-Gruppe Baden-Württemberg, Reutlingen, 9. Juli 2010
    Comment:
    Enthält den Artikel "Design for Testability (DFT) Strukturen für ASIC-Design und ihre Emulation auf FPGA" von Benjamin Dusch