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Raster-Elektronenmikroskop ermöglicht Untersuchungen mit höchster Auflösung und Präzision

  • Seit Beginn dieses Jahres hat das Zentrum für Physik der Hochschule Offenburg ein neues Rasterelektronen-Mikroskop (REM) der Firma Jeol. Das JSM-6610LV ist ein modernes, hochauflösendes digitales Raster Elektronenmikroskop mit Niedervakuum-Betriebsmodus. Nach Standard befindet sich die Probe in einem Elektronenmikroskop im Hochvakuum bei etwa 10-5 Pa. Der optionale Niedervakuumbetrieb reicht vonSeit Beginn dieses Jahres hat das Zentrum für Physik der Hochschule Offenburg ein neues Rasterelektronen-Mikroskop (REM) der Firma Jeol. Das JSM-6610LV ist ein modernes, hochauflösendes digitales Raster Elektronenmikroskop mit Niedervakuum-Betriebsmodus. Nach Standard befindet sich die Probe in einem Elektronenmikroskop im Hochvakuum bei etwa 10-5 Pa. Der optionale Niedervakuumbetrieb reicht von 10 Pa bis 270 Pa. Er ist besonders geeignet für die Untersuchung von ausgasenden, feuchten, klebrigen oder elektrisch isolierenden Proben wie stärkehaltigen Bakterien und Zellen.show moreshow less

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Metadaten
Document Type:Contribution to a Periodical
Zitierlink: https://opus.hs-offenburg.de/105
Bibliografische Angaben
Title (German):Raster-Elektronenmikroskop ermöglicht Untersuchungen mit höchster Auflösung und Präzision
Author:Walter A. GroßhansStaff MemberGND
Date of Publication (online):2012/04/30
First Page:60
Last Page:60
Volume:2011
URN:https://urn:nbn:de:bsz:ofb1-opus-1207
Language:German
Inhaltliche Informationen
Institutes:Zentrale Einrichtungen
Institutes:Bibliografie
Journals:Beiträge aus Forschung & Technik
DDC classes:600 Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
GND Keyword:Rasterelektronenmikroskop
Formale Angaben
Open Access: Open Access 
Licence (German):License LogoVeröffentlichungsvertrag für Publikationen mit Print on Demand