Pairwise Testing - Unentdeckten Fehlern auf der Spur
| Document Type: | Conference Proceeding |
|---|---|
| Conference Type: | Konferenzartikel |
| Zitierlink: | https://opus.hs-offenburg.de/476 | Bibliografische Angaben |
| Title (German): | Pairwise Testing - Unentdeckten Fehlern auf der Spur |
| Conference: | Embedded-Software-Engineering-Kongress, 7. bis 9. Dezember 2010, Sindelfingen |
| Author: | Daniel FischerStaff MemberGND, D. Seitel |
| Year of Publication: | 2010 |
| Place of publication: | Würzburg |
| Publisher: | Vogel Business Media |
| First Page: | 443 |
| Last Page: | 449 |
| Parent Title (German): | Embedded-Software-Engineering-Kongress : Tagungsband |
| ISBN: | 978-3-8343-2404-7 |
| Language: | German | Inhaltliche Informationen |
| Institutes: | Fakultät Elektrotechnik und Informationstechnik (E+I) (bis 03/2019) |
| Collections of the Offenburg University: | Bibliografie | Formale Angaben |
| Open Access: | Closed Access |
| Licence (German): |  Urheberrechtlich geschützt |