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Pairwise Testing - Unentdeckten Fehlern auf der Spur

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Metadaten
Document Type:Conference Proceeding
Conference Type:Konferenzartikel
Zitierlink: https://opus.hs-offenburg.de/476
Bibliografische Angaben
Title (German):Pairwise Testing - Unentdeckten Fehlern auf der Spur
Conference:Embedded-Software-Engineering-Kongress, 7. bis 9. Dezember 2010, Sindelfingen
Author:Daniel FischerStaff MemberGND, D. Seitel
Year of Publication:2010
Place of publication:Würzburg
Publisher:Vogel Business Media
First Page:443
Last Page:449
Parent Title (German):Embedded-Software-Engineering-Kongress : Tagungsband
ISBN:978-3-8343-2404-7
Language:German
Inhaltliche Informationen
Institutes:Fakultät Elektrotechnik und Informationstechnik (E+I) (bis 03/2019)
Institutes:Bibliografie
Formale Angaben
Open Access: Closed Access 
Licence (German):License LogoUrheberrechtlich geschützt