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Verfahren und Vorrichtung zum Spektrum-Monitoring (DE102014100251A1)

  • Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Spektrum-Monitoring eines vorgegebenen Frequenzbandes, bei dem die spektrale Leistungsdichte (S(f)) innerhalb des vorgegebenen Frequenzbandes für alle in dem Frequenzband enthaltenen Rausch- und Signalanteile bestimmt wird und für das Detektieren des Vorhandenseins eines oder mehrerer Signale innerhalb des vorgegebenen Frequenzbandes das Überschreiten einesDie Erfindung betrifft ein Verfahren zum Spektrum-Monitoring eines vorgegebenen Frequenzbandes, bei dem die spektrale Leistungsdichte (S(f)) innerhalb des vorgegebenen Frequenzbandes für alle in dem Frequenzband enthaltenen Rausch- und Signalanteile bestimmt wird und für das Detektieren des Vorhandenseins eines oder mehrerer Signale innerhalb des vorgegebenen Frequenzbandes das Überschreiten eines Schwellenwertes (λ) durch die spektrale Leistungsdichte (S(f)) ausgewertet wird. Erfindungsgemäß wird der Schwellenwert (λ) abhängig von einer Schätzung einer Verteilungsdichte (hR(S)) für den Rauschanteil der spektralen Leistungsdichte (S(f)) innerhalb des vorgegebenen Frequenzbandes und einem vorgegebenen Wert für die Falschalarmwahrscheinlichkeit (Pfa) berechnet.show moreshow less

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Metadaten
Document Type:Patent
Zitierlink: https://opus.hs-offenburg.de/3248
Bibliografische Angaben
Title (German):Verfahren und Vorrichtung zum Spektrum-Monitoring (DE102014100251A1)
Patent Number:DE102014100251A1
Author:Andreas ChristStaff MemberORCiDGND, Tobias FelhauerStaff MemberGND, Lothar SchüsseleStaff MemberGND, Christian WeberStaff Member
Year of Publication:2015
Date of Patent Application:10.01.2014
Date of Patent Granting:16.07.2015
Scope of the Patent:Deutschland
Contributing Corporation / Conference:Hochschule Offenburg
Page Number:26
URL:https://depatisnet.dpma.de/DepatisNet/depatisnet?action=bibdat&docid=DE102014100251A1
URL:https://worldwide.espacenet.com/patent/search?q=pn%3DDE102014100251A1
Language:German
Inhaltliche Informationen
Institutes:Fakultät Elektrotechnik und Informationstechnik (E+I) (bis 03/2019)
Collections of the Offenburg University:Bibliografie
Is variant form of:https://opus.hs-offenburg.de/1970   (Europäisches Patent)
Is variant form of:https://opus.hs-offenburg.de/8475   (Internationales Patent)
Formale Angaben
Open Access: Open Access 
Licence (German):License LogoUrheberrechtlich geschützt
Comment:
Anmeldenummer: 102014100251