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E-Tutoren-Ausbildung: Lernerfahrungen reflektieren – Lehrhandlungskompetenzen dialogisch aufbauen
(2014)
Der Entwurf von Strukturen zum reflexionsarmen Einbetten von Halbleiterbauteilen in Mikrostreifenleitungsschaltungen gestaltet sich mit steigender Frequenz kritischer. Deshalb wird ein Verfahren vorgestellt, das es ermöglicht, das Streuverhalten solcher Strukturen unter Anwendung der dreidimensionalen Finite-Differenzen-Methode auf die Maxwellschen Gleichungen numerisch zu berechnen. Hierauf aufbauend wurde das Programmpaket F3D entwickelt. Das Streuverhalten einer Verbindung zweier GaAs-Chips durch eine dielektrische Wand wird in Abhängigkeit von Geometrieparametern diskutiert. Außerdem werden Ersatzschaltbilder unterschiedlicher Komplexität für CAD-Anwendungen vorgestellt. Diese ermöglichen zudem eine rechenzeiteffektive Optimierung dieser Struktur, die somit Filteraufgaben übernehmen kann. Dies wird am Beispiel eines Tiefpasses gezeigt.
It is demonstrated that microwave structures incorporating dielectric resonators (DR) are accurately characterised by means of a 3-dimensional finite-difference CAD package. All major assumptions made so far have been dropped, offering the possibility of a rigorous analysis of the embedding of dielectric resonators into microwave structures. In particular, a finite thickness for the microstrip conductor has been taken into account. The coupling of the DR to a microstrip placed in a metallic housing has been theoretically and experimentally investigated. Theoretical and experimental results are in good agreement and give new insight into DR coupling to microstrip circuits.