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Mit dem Übergang zu immer komplexeren Designs an der Hochschule Offenburg werden DFT-Strukturen wie „Boundary Scan“ und „Scan“ in ASIC-Designs notwendig. Die DFT-Struktur Scan wird hierbei zukünftig bei Implementierung eines speziellen Scan Chain der Core Logic des ASIC-Designs verwendet und danach in der Boundary Scan Architektur integriert.
Zunächst werden die Strukturen im recht einfachen ASIC-Design „Rolling Dice“, entwickelt am IAF der Hochschule Offenburg, implementiert. Nach Verifizierung der Funktionalität der Strukturen durch Emulation erfolgt die Einführung in komplexere ASIC-Design wie Front-End ASIC DQPSK sowie Prozessor-ASIC PDA V.2 (beide ebenfalls entwickelt am IAF der Hochschule Offenburg).
Eine Verifizierung der mit DFT-Strukturen ausgestatteten komplexeren ASIC-Design erfolgt im Rahmen dieser Ausarbeitung nicht, Bezug genommen wird hauptsächlich auf die Einführung der DFT-Strukturen in das ASIC-Design des „Rolling Dice“.
Ein Vergleich von Aufwand gegenüber Nutzen bei Implementierung von DFT-Strukturen in „kleine“ gegenüber „große“ ASIC-Design bildet ein wichtiges Fazit.