Raster-Elektronenmikroskop ermöglicht Untersuchungen mit höchster Auflösung und Präzision
- Seit Beginn dieses Jahres hat das Zentrum für Physik der Hochschule Offenburg ein neues Rasterelektronen-Mikroskop (REM) der Firma Jeol. Das JSM-6610LV ist ein modernes, hochauflösendes digitales Raster Elektronenmikroskop mit Niedervakuum-Betriebsmodus. Nach Standard befindet sich die Probe in einem Elektronenmikroskop im Hochvakuum bei etwa 10-5 Pa. Der optionale Niedervakuumbetrieb reicht vonSeit Beginn dieses Jahres hat das Zentrum für Physik der Hochschule Offenburg ein neues Rasterelektronen-Mikroskop (REM) der Firma Jeol. Das JSM-6610LV ist ein modernes, hochauflösendes digitales Raster Elektronenmikroskop mit Niedervakuum-Betriebsmodus. Nach Standard befindet sich die Probe in einem Elektronenmikroskop im Hochvakuum bei etwa 10-5 Pa. Der optionale Niedervakuumbetrieb reicht von 10 Pa bis 270 Pa. Er ist besonders geeignet für die Untersuchung von ausgasenden, feuchten, klebrigen oder elektrisch isolierenden Proben wie stärkehaltigen Bakterien und Zellen.…
Document Type: | Contribution to a Periodical |
---|---|
Zitierlink: | https://opus.hs-offenburg.de/105 | Bibliografische Angaben |
Title (German): | Raster-Elektronenmikroskop ermöglicht Untersuchungen mit höchster Auflösung und Präzision |
Author: | Walter A. GroßhansGND |
Date of Publication (online): | 2012/04/30 |
Publishing Institution: | Hochschule Offenburg |
Creating Corporation: | Institut für Angewandte Forschung (IAF) |
First Page: | 60 |
Last Page: | 60 |
Issue: | 2011 |
URN: | https://urn:nbn:de:bsz:ofb1-opus-1207 |
Language: | German | Inhaltliche Informationen |
Institutes: | Zentrale Einrichtungen |
Institutes: | Bibliografie |
Journals: | Beiträge aus Forschung & Technik |
DDC classes: | 600 Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau |
GND Keyword: | Rasterelektronenmikroskop | Formale Angaben |
Open Access: | Open Access |
Licence (German): | Veröffentlichungsvertrag für Publikationen mit Print on Demand |